产品用途 Product Usage
HAST试验箱是利用高温(通常为130 ℃)、高相对湿度(约85%)、高大气压力的条件（达3 atm）来加速潮气通过外部保护材料或芯片引线周围的密封封装的试验设备，用于评估产品及材料在高温，高湿，高气压条件下对湿度的抵抗能力，加速其失效过程
该试验检查芯片及其他材料长期贮存条件下，高温和时间对器件的影响。本规范适用于量产芯片验证测试阶段的HAST测试需求，仅针对非密封封装（塑料封装），带偏置（bHAST）和不带偏置（uHAST）的测试。
特点 Characteristic
标准设计〓更安全：内胆采用圆弧设计防止结№露滴水，符合国家安全容器规范
多重保护功能：三道高温【保护装置、湿度用水断水保护与电热断水空焚保护、机台停机时自动↘排除饱和蒸气压力、气动机构压力保护等
稳定性更高：压力值采实际感应侦测，确保温度、湿度及压力值准确度
湿度自由选择：湿卐度自由选择饱和（100%R.H湿度）与非饱和（75%R.H湿度）自由设定
智能化高：支持电脑连接 利用USB数据 曲线导出保存
技术参数 （定制款需备注） Parameters（Note the needs for customizatio)
